X射线衍射仪冷热台XRD-190°～400°
产品简介：
DY-1940XRD真空冷热台是一款专为X射线衍射仪设计的变温附件，通过液氮制冷与电阻加热技术精准实现-190°C至400°C的宽温度范围控制，支持粉末、片状样品在空气、真空或惰性气体环境下的原位结构分析。其核心价值在于实时监测材料相变、晶格参数演变等热力学行为，为材料科学和能源电池等领域提供动态研究手段；作为X射线衍射分析仪的原位装置，它能有效控制材料在温度变化条件下的即时反应，并适配布鲁克、赛默飞、理学、岛津等主流XRD设备。
点应光学真空冷热台采用先进的PID算法与银质传导设计，支持反射/透射双模式自由切换；Kapton膜视窗确保高X射线穿透率；通过耦合电化学测试与XRD数据，实现材料“结构-性能”关系的多维解析，助力新型功能材料的开发与优化。跨学科应用包括：能源材料领域，分析锂/钠电池电极材料在充放电循环中的晶体结构变化；高温陶瓷领域，探究相变温度点及其热膨胀系数。
XRD冷热台温控参数：
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型号 |
DYLE-1940XRD |
DYE1200XRD |
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温控模块 |
冷热方式 |
液氮致冷，电阻加热 |
电阻加热 |
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温控范围 |
-190℃～400℃ * |
RT～1200℃ * |
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温度稳定性 |
±0.1℃（<400℃），±1℃（>400℃）* |
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温度分辨率 |
0.1℃ |
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升降温速率 |
0~50℃/min（可定点 / 程序段控温） |
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温控方式 |
PID |
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温度传感器 |
PT100 |
热电偶 |
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光学特性 |
光路 |
反射 * |
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X射线透射膜 |
Kapton膜 |
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结构特性 |
样品台尺寸 |
23×23mm * |
12x12mm * |
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样品台材质 |
银质 * |
陶瓷 * |
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外形尺寸 |
100×100×73mm * |
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腔室 |
真空* |
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外壳冷却 |
循环水 |
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基本配置 |
XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、制冷控制器x1（低温配置）、液氮罐x1（低温配置）、定制支架x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干 |
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选配 |
电脑主机/定制温控软件/定制光学盖板 |
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备注 |
以上均为默认参数 * 为可定制项 |
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其他可选型号 |
DY-1060XRD（-100~600℃）/ DY-1040XRD（-100~400℃） |
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